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Nano Seven 測定例

ナノ表面粗さ計測器「​ナノセブン」の計測プログラムを紹介します

​Ra(線粗さ)

シリコン-100µm.png

​任意を長さを指定し、繰り返し測定が可能。Ra、Rq、Rzの平均値と標準偏差を表示します

​Sa(面粗さ)

2D-Si-18807-2_edited.png

​任意の面積を指定し測定。Sa、Sq、Sz値と最大高さ、最大谷深さを表示します

​表面形状

NIMS-X5500xY40-2D形状.png

​断面及び表面の形状を3Dマップや断面図で表示します

​段差・形状

2D段差-1.JPG

段差形状を断面及び立体的に測定し、その凹凸高さを表示します。

​※上図は米国VLSIスタンダード社「高さ標準ゲージ(実測値20.2±1.0nm)を測定したものです

​スクラッチ形状

スクラッチ4-3拡.JPG

スクラッチ等傷の検出及び形状を3Dマップや断面、鳥瞰図で表示します

反り形状

ローム2-C-左~中心-3~-37.JPG

計測物の反り形状を表示します

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